產(chǎn)品中心PRODUCTS CENTER
在發(fā)展中求生存，不斷貼心，以良好信譽(yù)和科學(xué)的管理促進(jìn)企業(yè)迅速發(fā)展
首頁-產(chǎn)品中心-粗糙度測(cè)量?jī)x-Compact WIL白光干涉微光形貌粗糙度儀
產(chǎn)品分類
PRODUCT CLASSIFICATION技術(shù)文章
TECHNICAL ARTICLES
瑞士丹青進(jìn)口白光干涉微觀形貌粗糙度儀 瑞士丹青Compact WLI白光干涉微觀形貌及粗糙度儀是用于記錄3D形貌光學(xué)測(cè)量技術(shù)，其分辨率高達(dá)納米級(jí)。測(cè)量點(diǎn)平行采集和處理，大面積的高度信息可以在很短時(shí)間內(nèi)采集。研究和質(zhì)量管理過程中的典型應(yīng)用有：物體表面的不同粗糙度特性（晶圓結(jié)構(gòu)、鏡面、玻璃、金屬等）、確定高度變化以及曲面的精密測(cè)量（如微透鏡等）。
更新日期：2024-04-24
型號(hào)：Compact WIL
訪問次數(shù)：1323
Copyright©2026 德瑞華測(cè)量技術(shù)（蘇州）有限公司 版權(quán)所有 備案號(hào)：蘇ICP備20016265號(hào)-5 sitemap.xml 技術(shù)支持：化工儀器網(wǎng) 管理登陸
